Name: Câmara do teste de choque térmico de 3 zonas para o semicondutor
Brand: ASLi (China) Test Equipment Co., Ltd
SKU: TS-49-C
Price: negotiable USD
Availability: InStock

Características Galeria Descrição de produto Peça umas citações

Características

Especificações

Dimensão interna: W400*H350*D350mm

Volume: 49L

faixa de temperatura: -65~150C

Tempo de recuperação da temperatura: Dentro de 5 minutos

Tempo de conversão: dentro de 5S

precisão de controlo: +/-0,5C

Aplicação: Semicondutores

Tipo: tipo de 3 zonas

Destacar:

Câmara do teste de choque térmico para o semicondutor

câmara do teste de choque 3Zones térmico

câmara do teste 49L ambiental

Informação básica

Lugar de origem: CHINA

Marca: ASLI

Certificação: CE, ISO

Número do modelo: TS-49-C

Condições de Pagamento e Envio

Detalhes da embalagem: fortemente caixa da madeira compensada da exportação

Tempo de entrega: 30 dias úteis

Termos de pagamento: T/T, Western Union

Habilidade da fonte: 100 grupos por quatar

Galeria

Câmara do teste de choque térmico de 3 zonas para o semicondutor

Descrição de produto

3 Zone Thermal Shock Test Chamber For Semiconductor is used to test the bearing extent of the material structures and composite material in an instant and continuous high temperature and extremely low temperature environment, isto é, no menor tempo para testar a sua expansão térmica e contração causada por alterações químicas ou danos físicos, que é amplamente utilizado em metal, plástico, borracha,Eletrónica e outros materiais e pode ser utilizado como uma referência importante para melhorar a qualidade dos produtos.

Especificações

Modelo	TS-49 ((A~C)	TS-80 ((A~C)	TS-150 ((A~C)		TS-252 ((A~C)	TS-450 ((A~C)
Dimensão interna WxHxD (mm)	400X350X350	500X400X400	600X500X500		700X600X600	800X750X750
Dimensão externa WxHxD (mm)	1400X1800X1400	1550X1950X1550	1600X2000X1700		1700X2100X1750	1800X2200X1900
Intervalo de temperatura da zona de ensaio	Tipo A: -40 oC~+150 oC (200oC é opcional)			Tipo B: -55oC ~ + 150oC (200oC é opcional)		Tipo C: -65oC ~ + 150oC (200oC é opcional)
	Intervalo de altas temperaturas da zona de ensaio: +60oC~+150oC (200oC é opcional); Intervalo de baixa temperatura da zona de ensaio: -10oC ~ -40oC / -55oC / -65oC
Tempo de exposição a alta/baixa temperatura	Tempo de exposição a altas temperaturas: +60oC ~ +150oC (200oC é opcional) 30 minutos
	Tempo de exposição a baixas temperaturas: -10oC ~ Tipo A: -40oC / Tipo B: -55oC / Tipo C: -65oC 30 minutos
Temperatura da fenda de armazenamento de calor / tempo de aquecimento	RT~200oC/cerca de 45 minutos
Temperatura do espaço de armazenamento de arrefecimento / tempo de arrefecimento	RT ~- 75oC/ Cerca de 100 min
Tempo de recuperação da temperatura / tempo de conversão	≤5min/≤5sec
Precisão de controlo / Uniformidade de distribuição	±0,5oC/±2oC
Material interno e externo	Material da caixa interna é SUS 304# aço inoxidável, da caixa exterior é aço inoxidável ou ver aço laminado a frio com tinta revestido.
Material de isolamento	Resistentes a altas temperaturas, de alta densidade, formato de cloro, espuma de aceto etílico
Mecânica	P.I. D+S. S. R+ Sistema de controlo de temperatura equilibrada por microcomputador
Sistema de arrefecimento	Compressor semi-hermético de dois estágios (tipo refrigerado a água) / Compressor hermético de dois estágios (tipo refrigerado a ar)
Dispositivos de protecção de segurança	Interruptor de segurança, interruptor de proteção de alta e baixa pressão do compressor, interruptor de proteção de alta pressão do frigorífico, falha Sistema de alerta, alarme eletrónico
Acessórios	Janela de visualização (encomenda especial)
Compressor	Marca francesa "Tecumseh", Alemanha Marca Bizer
Potência	Linhas AC380V de 3 fases, 50/60Hz
Peso (aproximado)	450 kg	600 kg	750 kg		900 kg	1300 kg

Câmara de ensaio de choque térmico de zona 3 para ensaio de semicondutores Específica:
GB/T 2431.1-2001 Ensaio A: Método de ensaio a baixa temperatura
GB/T 2431.2-2001 Ensaio B: Método de ensaio a alta temperatura
GJB 150.3-1986: Temperatura elevada
GJB 150.4-1986: Baixa temperatura
IEC68-2-1 Teste A: frio
Teste IEC68-2-2 A: Seco
GB 11158 Prazo de ensaio a altas e baixas temperaturas
GB/T 2423.2 << Ensaio ambiental básico de produtos elétricos: B: método de alta temperatura>>

Sistema de arrefecimento e controlo de temperatura:
1- Modo de trabalho: selecção do tamanho do modelo da máquina; a cascata de refrigeração mecânica; refrigeração a ar.
2Compressores de refrigeração: Compressores herméticos ou semi-herméticos de baixa eficiência importados.

3Evaporador: Evaporador multiestádio automático de regulação da capacidade de carga do tipo "fin".
4. Condensador: condensador de dissipação de calor de concha e tubo.
5- Expansão do sistema: finalidades de controlo da capacidade do sistema de refrigeração
6Intercâmbio de calor refrigerado: fabricado em Taiwan.
7Modo de controlo da máquina refrigerada: o controlador do sistema de controlo ajusta automaticamente as condições de funcionamento refrigeradas com base nas condições de ensaio do que o projecto tradicional,controlar a estabilidade e a reprodutibilidade de alta potência e alcançar a eficáciaCircuito de refrigeração do compressor de ar de retorno.
8. Tubulação de refrigerante e refrigeração: R22, R-23, R404A, Proteção do Ambiente; índices são zero depreciação da camada de ozono

Embalagem e entrega

Exportação forte caixa de madeira contraplacada gratuitamente

Perfil da empresa

Com mais de 28 anos de experiência na indústria,orgulhamos dos nossos produtos e serviços de alta qualidade que ganharam a confiança dos nossos clientes em todo o mundo.

Abaixo estão os equipamentos que fornecemos:
Câmara de ensaio de temperatura e umidade
Câmara de ensaio de choque térmico da zona 3
Câmara de ensaio de envelhecimento PCT/HAST
Forno/forno de alta temperatura
Mecanismo de vibração de alta frequência
Máquina de ensaio de queda
Tabela de ensaio de impacto mecânico
Câmara de ensaio de sal
- Não.

Estamos empenhados em fornecer aos nossos clientes o melhor equipamento que atenda às normas e especificações internacionais.A nossa equipa de peritos garante que os nossos produtos passam por rigorosos processos de garantia de qualidade e inspecção para garantir a sua durabilidade, confiabilidade e eficiência.

Se você tem alguma dúvida ou necessidades sobre 3 Zonas câmara de teste de choque térmico para semicondutores, por favor, não hesite em enviar sua consulta.

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Telefone :	86-13543715035
Fax :	86-769-22851784

Câmara do teste de choque térmico de 3 zonas para o semicondutor

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câmara do teste 49L ambiental

Câmara do teste da umidade da temperatura

Câmara da umidade da temperatura

câmara da temperatura e da umidade

A parte superior simulada ambiental climática do equipamento das câmaras do teste de laboratório carregou dois a porta OpenWide que a parte superior aberta carregou a porta dois aberta

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